| 详细信息： | 冷热冲击试验箱厂
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产品名称： 冷热冲击试验箱
商品说明：
冷热冲击试验： 用来测试资料结构或复合材料。藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。 瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的水平，
用途
国防工业、航天、兵工业、 BGA PCB 基扳、电子芯片 IC 半导体陶磁及高分子资料之物理牲变化 , 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学资料、塑胶等行业。测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质 , 从精密的 IC 重机械的组件，无一不需要它理想测试工具 .
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产品名称：
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产品型号：
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WHTST
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产品报价：
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零售价（ 0.0000 市场价（ 0.0000 会员价（ 0.0000 VIP 价（ 0.0000
为待测产品静置冷、热交替冲击方式，
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产品特点：
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冷热冲击试验机采用蓄冷、蓄热方式。测试产品在温度急剧变化后的性能与参数。
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冷热冲击试验机 详细资料：
此设备区分为高温区，低温区，测试区三部份，采独特之断热结构及蓄热、蓄冷效果，应用冷热风路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试，待测品为不移动之方式。
采用原装日制微电脑大型液晶 LCD 320 x 240 Dot 中英文显示控制系统。
高程序记忆容量，可设定储存 100 组程序，最大循环设定 9999 Cycl 每段时间最大设定 999 Hrs 59Min
具有 RS-232C 通信接口装置，可与计算机联机操控 / 编辑 / 记录及二组动态接点 ( Time Signal Relai 使用便利。
执行冷热冲击条件时，可选择 2 Zone 或 3 Zone 之功能。
具备全自动，高精度系统回路，任一机件动作，完全由 P.L.C. 锁定处置。
机件固障时，配有自动机回路及警示讯号。发现输入电力不稳定时，具有紧急停机装置。
可非标定做升降式（吊蓝式）冷热冲击试验箱，即只做高低温两区测试。
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型号 Model
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WHTST-050
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WHTST-080
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WHTST-108
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WHTST-216
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内部尺寸 W*H*D cm
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36*35*40
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50*40*40
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60*40*45
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60*60*60
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外部尺寸 W*H*D cm
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158*195*138
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170*200*148
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180*200*153
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185*225*182
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温度范围
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高 温 区
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80 ℃ 200 ℃
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低 温 区
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-10 ℃ ～ -40 ℃ , -10 ℃ ～ -60 ℃ , -10 ℃ ～ -70 ℃
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测 试 区
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+60 ℃ ～ +150 ℃
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0 ℃ ～ -40 ℃ , -10 ℃ ～ -55 ℃ , -10 ℃ ～ -65 ℃
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性能
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温度分布均匀度
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± 3 ℃
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温度恢复时间
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3 15min
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升温时间
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℃
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150
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150
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150
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150
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min
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30
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40
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40
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40
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降温时间
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℃
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-40 -55 -65
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-40 -55 -65
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-40 -55 -65
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-40 -55 -65
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min
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60 70 80
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70 80 90
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80 90 100
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90 100 110
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系统
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循环系统
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采日制多翼离心式循环风扇
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加热系统
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镍铬合金不锈管加热器
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制冷系统
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采原装欧美进口高效率压缩机
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控制系统
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日本 OYO 原装黑色液晶触摸屏控制器
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资料
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内箱材质
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SUS#304 不锈钢板
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外箱材质
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SUS#304 纱面不锈钢或冷扎钢喷塑处理
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保温材质
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硬质聚胺脂发泡 + 玻璃棉
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电源配置 / 功率 ( KW
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A C 3 ψ 380V 60/50Hz
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20 21 22
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21 22 23
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22 23 25
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28 35 45
待测物完全静止测试方式是当前电子部品，仪器介绍：蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（ LN2 或 LCO2 辅助降温。国防工业，航空工业测试用、研究用、以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材测试费用。操作快捷、高信赖，本公司经多年潜心、倾力研究，开发高性能试验机，提供您长期可靠的测试工具。技术参数型号 内尺寸 cmH W D 外尺寸 cmH W D 试验槽冲击温度 高温温度范围 低温温度范围
CH 49A 35 40 35 140 125 132 40 10 ℃ ＋ 60 ℃ ～＋ 200 ℃ 55 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 49B -55 10 ℃ 65 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 49D -65 10 ℃ 80 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 80A 40 50 40 150 135 147 40 10 ℃ 55 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 80B -55 10 ℃ 65 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 80D -65 10 ℃ 80 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 150A 50 60 50 160 155 192 40 10 ℃ 55 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 150B -55 10 ℃ 65 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 150D -65 10 ℃ 80 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 252A 60 70 60 170 165 217 40 10 ℃ 55 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 252B -55 10 ℃ 65 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 252D -65 10 ℃ 80 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 480A 80 80 75 225 202 215 40 10 ℃ 55 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 480B -55 10 ℃ 65 10 ℃
＋ 60 150 ℃
CH 480D -65 10 ℃ 80 10 ℃
＋ 60 150 ℃
低温槽，主要特点 ★ 高温槽。试料槽完全静止。可
由测试孔外加负载配线。
将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的冲击时间 0.01 99.59 小时； 冲击方式采用风路切换方式。
可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜
操作简单，采用触控式黑色液晶显示人机界面控制器。
稳定可靠； 学习容易。
全部采用 PID 自动深算制御 温度制御精度高。
高温或低温开始循环 可选择始动位置。
具有预约起动功能；可设定循环次数及自动除霜
可选择二槽或三槽循环
异常及故障点显示说明及排除方法 运转状态显示及曲线。
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